PCT高压寿命测试设备作业指导书

一．规范要求：

艾思荔PCT高压寿命测试设备内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，

从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。配备双层不锈钢产品架,也可根据客户

产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。

二．安全保护装置

A.误操作安全装置：高压加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动.

B.超压安全保护：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压.

C.超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.

D.防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.

E.手动安全保护排压伐.

三．设备特点：

1.PCT高压寿命测试设备采用顶级进口品牌配件,整机1年免费保修.

2.PCT加速老化试验箱最新优化设计,美观大方,做工细节优良.

3.大容量水箱,试验时间长,全自动补水,试验不中断.

4.进口“SHIMAX”LED双数显高精度自能温控器,误差±0.1℃，或根据试验需要可采用真彩触摸屏控制器.

5.一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长.

6.电路整合设计,操作简单,维护方便.

四．产品应用：

PCT高压寿命测试设备（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测

产品被置于严苛之温度.湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常

见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于

线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿

命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压.负荷等)，加快试验过程，缩

短产品或系统的寿命试验时间。

 

五．半导体测试：

PCT高压寿命测试设备对半导体的PCT测试：PCT最主要是测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被

放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之

接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应.动金属化区域腐蚀造成之断路.封装体引脚间因污

染造成之短路等相关问题。